Sympozjum i Warsztaty Zaawansowanej Preparatyki Próbek do Mikroskopii w Inżynierii Materiałowej

INFORMACJE OGÓLNE

Sympozjum i Warsztaty Zaawansowanej Preparatyki Próbek do Mikroskopii w Inżynierii Materiałowej
29-30 października 2019

W ramach Sympozjum oferujemy Państwu możliwość wzięcia udziału w wykładach zaproszonych gości oraz aktywnego uczestnictwa w warsztatach sprzętowych oraz prezentacjach systemów mikroskopowych i urządzeń do preparatyki próbek. Celem tego wydarzenia jest przybliżenie postępu, który dokonał się w ostatnich latach w obszarze preparatyki próbek i mikroskopii dedykowanych inżynierii materiałowej. W trakcie dwudniowego Sympozjum wiodące firmy specjalizujące się w inżynierii materiałowej zaprezentują swoje innowacyjne rozwiązania oraz najnowsze osiągnięcia.

Uczestnicy będą mieli okazję przetestować zaprezentowane rozwiązania podczas warsztatów. W ramach Sympozjum oferujemy bowiem Państwu możliwość udziału w sesjach praktycznych, gdzie zaprezentowane będzie działanie oraz omówiona zostanie specyfika następujących urządzeń:

1. Ultramikrotom z komorą mrożeniową Leica EM UC7 / FC7 oraz łamarka do noży szklanych Leica EM KMR2
2. System do polerowania jonowego Leica EM TIC 3X
3. System do wstępnej preparatyki mechanicznej – Leica EM TXP
4. Kompletna linia do preparatyki metalograficznej Lam Plan: przecinarka precyzyjna / metalograficzna, urządzenie do inkludowania oraz szlifierko-polerka.
5. Urządzenia do nanoszenia warstw przewodzących – napylarki Leica EM ACE 200, Leica EM ACE 600 oraz suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD 300
6. Urządzenie do laserowego wycinania próbek – 3D Micromac: microPREP
7. Urządzenie do czyszczenia plazmowego: IBSS: Chiaro / GVx10
8. Mikroskopy świetlne Leica Microsystems: metalograficzny oraz stereoskopowy.
9. Mikroskop siła atomowych: Nanosurf: Core
10. Skaningowe mikroskopy elektronowe Thermo Fisher Scientific: Phenom ProX oraz Phenom XL
11. Skaningowy mikroskop elektronowy dedykowany do analizy czystości technicznej zgodnie z normami VDA 19 oraz ISO 16232 – Thermo Fisher Scientific: Phenom Particle X
12. Transmisyjny mikroskop elektronowy: Delong Instruments: LVEM 5 oraz urządzenie do analizy nanocząstek techniką DLS: Cordouan Technologies: Vasco KIN TM

W trakcie ww. warsztatów zaprezentowany zostanie kompletny zestaw przyrządów dedykowanych preparatyce próbek. Wszystkie rezultaty przygotowania próbek będą możliwe do obejrzenia przy użyciu mikroskopów optycznych, SEM, HR-SEM oraz TEM.
Uczestnictwo w sympozjum wymaga rejestracji oraz uiszczenia opłaty konferencyjnej.
Opłata konferencyjna: 500 zł (wliczony jeden nocleg, śniadanie, lunche oraz specjalna kolacja)

Swoją obecność na warsztatach potwierdzili:
Leica Microsystems, Thermo Fisher Scientific,Lam Plan, 3D-Micromac, IBSS, Protochips, and Nanosurf.

Organizatorzy:

PIK Instruments

PROGRAM